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OmniScan iX UT 多通道超聲波探傷儀的設(shè)計目的是對航空航天制造業(yè)、汽車工業(yè)等的關(guān)鍵性工業(yè)部件、焊接部件進行高速檢測?？烧系狡渌鼨z測系統(tǒng)中使用，通過GE DFO P3TF22、P3TF30、P3TF31和P3TF35驗證。

NORTEC 600便攜式渦流檢測儀匯集了高性能數(shù)字電路和渦流探傷方面的技術(shù)。NORTEC 600帶有清晰明快的5.7英寸VGA顯示屏，并具有真正的全屏模式，在任何光線條件下都可以呈現(xiàn)可見度*、對比效果渦流信號。

Niton XL2合金分析儀可為制造*提供快速準確的金屬合金驗證。XL2 分析儀采用標準集成式相機準確定位分析區(qū)域，可提供鈦到鎳等元素合金材料的即時、無損元素分析以及偶存元素和痕量元素分析。手持式 Niton XL2 分析儀輕巧、耐用，適用范圍日益擴大，包括非金屬鑒別、采礦和勘探以及消費品和電子產(chǎn)品的鉛超標篩選等。

MiniTest 7400 FH測厚儀是便攜式的厚度測量工具，可準確測量厚達10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場和實驗室進行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進行簡單，無損，高精度的厚度測量，無論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。 它還是尖角，小半徑和復雜形狀工件理想的測量工具。

PX-8超聲波測厚儀除了具有PX-7的全部功能外，還增加了存儲功能，可存儲1000個測量數(shù)據(jù)。儀器還附帶有通訊電纜和軟件，可將數(shù)據(jù)傳送到計算機上

phoenix x|aminer 入門級X射線檢測系統(tǒng)是一款操作簡便的入門級X射線檢測系統(tǒng), 具有高性能的微焦點無損檢測設(shè)備, 是專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測要求而設(shè)計. 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比。

phoenix nanome|x 納米焦點 X射線檢測系統(tǒng)是超高分辨率的納米焦點 X射線檢測系統(tǒng)，設(shè)計用于檢測半導體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連。 該系統(tǒng)具有性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機斷層掃描（nano ct）。 有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng)，用以確保滿足目前和未來的*要求。

Phascan超聲相控陣探傷儀-32/128PR自主研發(fā)的高水平便攜式超聲相控陣檢測儀，它因匯聚了獨立的128個硬件發(fā)射通道、支持1024個聚焦法則、功能強大的數(shù)據(jù)分析處理軟件和“超聲模擬計算器”等*技術(shù)而在同類產(chǎn)品中具有更強的實用性